nxp,msm等手机测试夹具，测试架

本公司各类主控芯片测试夹具，采用金属座头，探头结构，性能稳定，欢迎来电咨
   flash ic测试座，各类bga/tsop等
lga测试座特点：
※通用性高，支持所有方案，能插在所有原来的测试架上用，与tsop共测
※大小兼容设计，只要换限位框，即可测试外形尺寸不同（12x17,13x17,14x18,12x20)的lga flash；
※lga测试座测试寿命可达10万次以上，是yamaichi和okins同类lga socket寿命的10倍以上；并且探针可更换，维修方便，成本低；
※采用手动翻盖式结构，操作方便；
※上盖的压板采用特殊结构，下压平稳，保证ic的压力均匀，不移位；
※高精度的定位槽，保证lga定位精确，效率高；
※整机24小时工作性能稳定可靠，是flash经销商及u盘工厂好帮手